В даташите указан параметр hFE транзистора 25 при 25С, а тестер отображает значение 20.

Это может значить, что тестер тухлый, между прочим. Это может значить, что транзистор китайский. Это дохрена чего значить может, но только не перегрев переходов: они стабильны при температуре пайки и идеальном режиме работы транзистора, вещества в переходе не могут изменить структуру при пайке именно контактов так, что упадёт коэффициент диффузии, скорее просто сгорит, но это не тот случай. Тестер то давно поверялся?

По обратному току - база коллектор, у перегретого он значительно больше, кристалл деградирует хоть транзистор можно считать рабочим для мало ответственных схеме!

На дисплее, кроме цоколёвки транзистора и его типа (n-канальный MOSFET), тестер указывает величину ...Если заглянуть в даташит на IRFZ44N и найти там значение VGS(th) ...Не может составной транзистор иметь коэффициент усиления hFE = 37.
http://go-radio.ru/universalniy-tester-radiokomponentov.html

Этот параметр не поддается строгому контролю, и приводится в среднем, либо в виде диапазона.

По обратному току - база коллектор, у перегретого он значительно больше, кристалл деградирует хоть транзистор можно считать рабочим для мало ответственных схем.... А что касаемо усиления, так его надо было измерить до нагрева, сейчас сложно об этом судить....

Не может коэффициент иметь одно значение, обычно это диапазон. Входит, значит нормально.

Нормальный транзистор, и ничего с ним ппоизойти от пайки не могло. А коэфф. усиления никогда не даётся совершенно определённым, а даётся диапазон значений коэффициента. И причём он очень большой. 20 - 100, 50 - 300....

замерить сопротивление переходов в прямом и обратном направлении. Как вы любите говорить - тупо, тестером.
А несовпадение результата измерения с заявленным значением - вещь обычная. Связано это со многими факторами. Самый очевидный - несовпадение условий измерения. Указано среднее значение для партии изделий под этой маркой. Данное отклонение возможно укладывается в допустимый разброс по ТУ на эти приборы.

А Вы выдержали условия измерения коэффициента усиления указанные в даташите? То есть напряжение коллектора и ток базы? При разных токах базы и коэффициент усиления будет разным. Вы знаете параметры прибора которым измеряли параметры транзистора? И как сказали выше, есть допуск. Кристаллы начинают деградировать с момента изготовления. А температуру при измерениях строго держали в заданных рамках?

Проверить можно на утечку перехода при повышенном токе а то что к. ус 20 так это нормально ибо на неисправном нет усиления ...можно его погреть и поохлаждать и посмотреть за усилением и параметрами

Ну, это норма. Невозможно изготовить транзистор с точным значением hfe, а еще он зависит от температуры и меняется даже в процессе работы. Даже простой резистор на 100 Ом будет на самом деле 98, 102, да пусть даже 99,6, но ведь не 100, а если вдруг и будет 100, то на один случай на 1000 штук. А все дело в допусках.
А как тестировать транзисторы, можно посмотреть здесь
https://youtu.be/3zufQ199Wxg

скорее всего транзистор из китая

1. Параметр hFE - не константа, а изменяется: во-первых, в зависимости от тока коллектора, во-вторых, от температуры транзистора, в-третьих, от технологического разброса параметров, в-четвёртых, от процессов старения.
2. Вообще-то корректно он указывается в даташите в виде диапазона или графиков зависимостей от тока и от температуры. Попробуйте почитать даташиты на другие биполярные транзисторы.
3. Проблема убийства паяльником была актуальна для германиевых транзисторов, для которых максимально допустимая температура была 70-75 градусов Цельсия. У кремниевых транзисторов она обычно составляет 125-175 градусов, поэтому их обычно убить таким способом очень сложно, можете не брать себе в голову.
4. Проверка биполярного транзистора на дохлость производится по обратному току перехода коллектор-база, на него обычно даже в даташите пишут максимально допустимый обратный ток. Конечно, можно и по переходу эмиттер-база, но обычно его обратный ток в даташите не указывается.

G